IC-CAP（集成电路表征和分析程序）是用于直流、模拟和射频半导体器件表征和建模的行业标准软件。IC-CAP 提取精确的紧凑模型，用于高速/数字、模拟、电力电子和功率射频应用。 IC-CAP 为设备工程师和设计人员分享了最先进的建模工具，可满足众多建模需求，包括自动化仪器控制、数据采集、参数提取、图形分析、仿真、优化和统计分析。所有这些功能都结合在一个灵活、自动化和直观的软件环境中，以高效、准确地提取有源、无源和用户定义的设备和电路。当今最先进的半导体代工厂和集成器件制造商 (IDM) 依靠 IC-CAP 对硅 CMOS、双极、化合物砷化镓 (GaAs)、氮化镓 (GaN) 和许多其他器件技术进行建模。
Keysight IC-CAP 2020 器件建模软件
集成电路表征和分析程序（IC-CAP）是进行直流和射频半导体器件建模的工业标准。IC-CAP 能够从高速/数字、模拟和功率射频应用软件中提取出精确而紧凑的模型。当前，大多数领先的半导体制造商和集成器件制造商（IDM）都是采用 IC-CAP 对芯片 CMOS、Bipolar、混合砷化镓（GaAs）、氮化镓（GaN）以及其他器件技术进行建模。IC-CAP 是一种非常先进的可定制建模软件，其中包括测量、仿真、优化和统计分析等工具。
IC-CAP 的主要优势
开放式软件体系结构能够确保优异的测试精度，并支持您非常灵活地生成和自动执行测量、提取和验证程序
针对工业标准 CMOS 模型（例如 BSIM3/BSIM4、PSP 和 HiSIM）的成套提取解决方案，可显著缩短学习过程，提高模型精度
直接连接到商用仿真器，确保提取的模型与电路设计人员使用的仿真器保持一致性
功能一览
- 开放式软件架构使您能够通过集成您自己的建模专业知识和方法来实现最大精度，并分享最大的灵活性来创建和自动化测量、提取和验证程序。
- 适用于 BSIM3/BSIM4、PSP、HiSIM 和 HiSIM_HV 等行业标准 CMOS 模型的交钥匙提取解决方案可最大限度地减少学习曲线并最大限度地提高模型精度。
- 独特的非线性高频建模，包括 Keysight DynaFET、NeuroFET、Root 模型、高频 BJT、MESFET、PHEMT 和最先进的 Verilog-A 模型。
- 与大多数商业仿真器（例如 ADS、HSPICE、Spectre 和 ELDO）的直接链接确保提取的模型与电路设计人员使用的仿真器之间的一致性。
- 采用 IC-CAP Wafer Professional (WaferPro) 的最先进、最完整的晶圆上自动测量和表征环境。
- 强大的数据处理能力。
- IC-CAP 电力电子模型发生器能够提取 SiC、GaN 和 IGBT 功率器件，并与 Keysight PD1000A 测量系统配合使用以进行高级建模。
使用 IC-CAP 提取模型
典型的建模过程包括根据器件技术及其最终电路应用（例如直流、高频或两者）选择模型，进行必要的测量以表征器件或一组器件，然后最终应用提取算法计算模型参数。最后一步是通过使用内置或自定义模型方程从测量数据中计算参数，或者通过调整或优化技术来实现的。
IC-CAP 分享了工程师开发自己的提取方法所需的平台和工具。是德科技和第三方供应商都为需要在第一天启动并运行的用户分享交钥匙建模提取包。
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